Лаборатория спектральных исследований

Основные направления исследований лаборатории

• Фундаментальные исследования вещества в экстремальных условиях при сверхвысоких давлениях со сдвиговой деформацией: фазовые превращения материалов, переход к наноразмерным структурам под воздействием высокого давления и сдвига.
• Исследования оптических свойств алмазов, легированных бором и другими элементами с целью получения полупроводников p- и n-типа.
• Исследования оптических и структурных свойств алмазов и наноструктур.

Прикладные исследования

• Нанолитография на алмазах: создание поверхностных структур с вертикальными размерами в несколько десятков нанометров.
• Сертификация синтетических и природных алмазов.

Используемые методики и приборная база

• Спектроскопия колебательных переходов:
  • спектроскопия комбинационного рассеяния (КРС):
    Спектрометры TRIAX-552 и iHR550 (с низкотемпературными ССD, зеркальной оптикой и фильтрами для подавления лазерного излучения) снабженные микроскопическими, спектральный диапазон: 200 – 1100 нм;
  • фурье-спектроскопия поглощения и отражения в инфракрасном (ИК) диапазоне:
    ИК Фурье-спектрометр Thermo Nicolet Nexus 470 FT-IR, спектральный диапазон: 400 – 7000 см^-1;. Вакуумный Фурье-спектрометр VERTEX 80v c ИК микроскопом HYPERION2000, криостатом от 80К и различными приставками, спектральный диапазон: 30 – 50000 см^-1;
• Спектроскопия электронных переходов:
  • фотолюминесценция;
  • поглощение в ультрафиолетовом (УФ), видимом и ближнем инфракрасном (ИК) диапазонах (Спектрофотометр Сary 4000, Спектральный диапазон: 175 – 900 нм);
• Оптические исследования в условиях низких и высоких температур:
  криостат замкнутого цикла Special Model CM-950-7 Optical Cryastat, диапазон температур от 4 до 600 К.

Важнейшие научные и прикладные достижения

Впервые получены углеродные луковичные структуры при воздействии высоких давлений и сдвиговой деформации на графит в алмазных камерах высокого давления. Методом комбинационного рассеяния света показано, что полученные углеродные луковицы имеют структуру фуллеренового типа.
Показано, что сверхпроводимость в алмазах, легированных бором, обусловлена поверхностным слоем.