Цели и задачи направления:

Комплексные исследования физико-механических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая тонкие пленки и покрытия, алмазы и алмазные порошки.

Оборудование:
• Лазерный маркировочно¬обрабатывающий центр IPG Photonics;
• Оптический профилометр S neox 3D (SENSOFAR);
• Сканирующая зондовая нанолаборатория Интегра-Прима (НТ-МДТ);
• Сканирующий зондовый микроскоп НаноСкан3D(тм).

Виды и диапазоны измерений:

Наномеханические испытания

Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением. Поддерживаются следующие СЗМ измерительные методики:

• Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ);
• Туннельная спектроскопия;
• Контактная атомно-силовая микроскопия (АСМ);
• Микроскопия латеральных сил (МЛС);
• Резонансная АСМ (полуконтактная+бесконтактная);
• Метод отображения фазы;
• Метод модуляции силы;
• Изображение силы адгезии;
• Отображение сопротивления растекания;
• Сканирующая емкостная микроскопия (СЕМ);
• Метод зонда Кельвина;
• Магнитно-силовая микроскопия;
• Электро-силовая микроскопия (ЭСМ);
• Поперечно-силовая микроскопия;
• Измерение модуля упругости методом кривых подвода;
• Измерение твердости методом склерометрии.

Комплексные исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе. Получение изображений рельефа поверхности путем растрового сканирования с шагом 1,5 нм в поле сканирования до 100 мкм.
www.nanoscan.info

Режимы измерения:

• Конфокальная микроскопия (Confocal);
• Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, СSI);
• Изменение фокуса (Ai Focus Variation).

Характеристики прибора:

• Максимальное разрешение по оси Z - 0,5 нм;
• Камера высокого разрешения 2442 х 2048 пиксела (60fps);
• Четыре LED источника света внутри оптического ядра: красный (630 нм), зеленый (530 нм), голубой (460 нм) и белый (575 нм).