Цели и задачи сектора:

Комплексные исследования физико-механических свойств различных типов материалов, углеродных наноструктур и композиционных материалов на их основе, включая тонкие пленки и покрытия, алмазы и алмазные порошки.

• Кулибаба Владимир Федорович, н.с.
• Батова Наталья Ивановна, ведущий инженер
• Мельникова Анастасия Георгиевна, ведущий инженер
• Соловьева Людмила Федоровна, ведущий инженер

Виды и диапазоны измерений:

Сканирующая зондовая микроскопия

Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением. Поддерживаются следующие СЗМ измерительные методики:

• Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ);
• Туннельная спектроскопия;
• Контактная атомно-силовая микроскопия (АСМ);
• Микроскопия латеральных сил (МЛС);
• Резонансная АСМ (полуконтактная+бесконтактная);
• Метод отображения фазы;
• Метод модуляции силы;
• Изображение силы адгезии;
• Отображение сопротивления растекания;
• Сканирующая емкостная микроскопия (СЕМ);
• Метод зонда Кельвина;
• Магнитно-силовая микроскопия;
• Электро-силовая микроскопия (ЭСМ);
• Поперечно-силовая микроскопия;
• Измерение модуля упругости методом кривых подвода;
• Измерение твердости методом склерометрии.

Комплексные исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе. Получение изображений рельефа поверхности путем растрового сканирования с шагом 1,5 нм в поле сканирования до 100 мкм.
www.nanoscan.info

Режимы измерения:

• Конфокальная микроскопия (Confocal);
• Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, СSI);
• Изменение фокуса (Ai Focus Variation).

Характеристики прибора:

• Максимальное разрешение по оси Z - 0,5 нм;
• Камера высокого разрешения 2442 х 2048 пиксела (60fps);
• Четыре LED источника света внутри оптического ядра: красный (630 нм), зеленый (530 нм), голубой (460 нм) и белый (575 нм).

Измерения плотности, микротвердости,
модулей упругости

Пределы взвешивания:
от 0,01 до 1,0 г с погрешностью 0,001 г;
от 1,0 г до 60 г с погрешностью 0,1 г;
от 60 г до 200 г с погрешностью 0,3 г.

Предназначен для проведения исследований как в проходящем, так и в отраженном свете. Максимальный диапазон общего увеличения 3000х. Доступные методы исследований: светлое поле, темное поле, дифференциальный интерференционный контраст (DIC) Номарского, поляризация.

Предназначен для прецизионных измерений фазовой скорости продольных ультразвуковых волн в образцах различных конструкционных материалов (металлов, сплавов, керамик, пластмасс, композитов) при одностороннем доступе к объекту контроля. Рабочая полоса частот опто-акустического преобразователя 0,1 - 15 МГц, толщина объектов контроля 0,2 - 100 мм, диапазон измеряемых скоростей ультразвука (0,1 - 99)×10³ м/с, максимальная относительная точность измерений 3%. Прибор имеет режим измерений модулей упругости материалов на малых образцах.

Сканирующий широкополосный акустический микроскоп предназначен для исследования внутренней микроструктуры твердых тел посредством акустического А-сканирования, В-сканирования и метода V(Z)-кривых. Работает в режиме отражения на частотах 25 и 100 МГц в импульсном (при длительности от 30 нс) и непрерывном режимах. Блок механического сканирования обеспечивает прецизионное сканирование акустической линзой вдоль направления Х (параллельно поверхности образца) и Z (перпендикулярно поверхности). На образцах с плоско-параллельными гранями измеряются скорости ультразвуковых продольных и сдвиговых волн с погрешностью ~1%.

С чувствительностью в 0,0002 мкм измеряет 22 параметра шероховатости и 4 параметра волнистости наружных и внутренних (пазы, отверстия) поверхностей, сечение которых в плоскости измерения - как прямая, так и изогнутая по радиусу линии (шарики, валы и т.д.), с измерением этого радиуса.